X射線熒光光譜儀EDX-720X射線熒光光譜儀EDX-720 迅速測定ppm級的有害金屬！ 應(yīng)對WEEE & RoHS、ELV等有害物質(zhì)相關(guān)法規(guī)。 應(yīng)對ASTM F963,EU_EN71美國和歐盟的玩具法規(guī)和指令，保證產(chǎn)品和用料的綠色環(huán)保。 X射線熒光光譜儀EDX-720是使用Ｘ射線照射樣品，對產(chǎn)生的熒光Ｘ射線的能量進行檢測，測定構(gòu)成樣品的元素種類及含量的裝置?？蔁o損地進行固體、粉體、液…[Detailed] |
X射線熒光分析儀EDX-GPX射線熒光分析儀EDX-GP是最適合用于RoHS/ELV/無鹵素法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒X射線熒光分析裝置EDX-GP光分析裝置。 第一次使用EDX-GP，也能輕松操作，操作簡便且以更高的精度進行微量分析，達到最高靈敏度與最佳分辨率的完美結(jié)合。EDX-GP標準配置RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能，用戶無需購買特殊選購件，…[Detailed] |
X射線熒光分析儀EDX-LEEDX-LE是一款專用于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現(xiàn)降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。 根據(jù)不同樣品從開始測試到得到結(jié)果所需測試時間基本上可在1分鐘內(nèi)完成，所以完全可以應(yīng)對RoH…[Detailed] |
島津X熒光分析儀 EDX-LE Plus 能量色散型X射線熒光分析儀 EDX-LE Plus是一款專用于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（高分辨率SDD）檢測器，因此在實現(xiàn)降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。 根據(jù)不同樣品從開始測試到得到結(jié)果所需測試時間基本上可…[Detailed] |
微焦X-Ray線透視裝置SMX-160GT[1μm焦點] 可直接觀察IC盤上的BGA，能夠用高放大倍數(shù)從所有角度位置觀察、解析。 利用NC技術(shù)提供旋轉(zhuǎn)傾斜（跟蹤）功能/自動定位功能/標記功能（選件），放大倍率可達2700倍，高分辨率透視，能夠進行尺寸測BGA透視圖像 SMX-160GT的傾斜圖像不是讓樣品傾斜，而是驅(qū)動影像增強器可傾斜到60°角進行拍攝，得到具有立體感的透視圖像。[Detailed] |
微焦X射線透視檢查裝置SMX-2000島津SMX-2000采用了高速載物臺、配置了外觀圖像決定位置功能、只點擊一下鼠標就能完成所有必要設(shè)定的跟蹤功能等，能夠更加迅速地移動樣品和變換觀察角度，實現(xiàn)透視檢查。SMX-2000尤其適合BGA焊球缺陷、觀察焊線鍵和狀態(tài)等實裝板的檢查。
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微焦X-Ray射線透視檢查裝置SMX-1000/1000L產(chǎn)品信息 操作簡便、功能強大的緊湊型X射線檢查裝置，選擇增加VCT組件后，立刻成為CT設(shè)備！ SMX-1000/SMX-1000L采用FPD（數(shù)字式平板檢出器）和密閉式微焦點X射線管球，可以得到?jīng)]有變形和重影的清晰的透視圖像。設(shè)備上的CCD相機可拍攝樣品實物圖片，從而實現(xiàn)導(dǎo)航功能、步進功能、教學(xué)功能、圖像數(shù)據(jù)功能以及各種測量功能。
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微焦點X-Ray射線透視檢查裝置島津SMX-800分辨率可達10微米，SMX-800可用來確認BGA芯片的各種貼裝不良情況，如短路、錫球變形、虛焊等；還可確認各種樣品內(nèi)部的狀態(tài)，如連接器電源、微動開關(guān)、SD卡、焊線、LED指示燈、晶振、引線接合、電容器、鋰離子電池、手機用小型馬達、光電耦合器，鑄造產(chǎn)品等。[Detailed] |
X-Ray無損檢測儀Xspection 6000是一款采用平板探測器和大發(fā)射角的微焦斑X光管組合的高性能、高性價比的閉管X光機，它支持360度旋轉(zhuǎn)，最大傾斜角度70度，可以升級為工業(yè)CT，是SMT(BGA)，航空航天，半導(dǎo)體等產(chǎn)品無損檢測的最佳產(chǎn)品。
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