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X射線(xiàn)熒光分析儀EDX-GP
【Product Name】X射線(xiàn)熒光分析儀EDX-GP
【Product Category】光譜儀
【Popular Products】5894
【Updated】2016/9/14 13:29:47
Details

簡(jiǎn)單介紹

X射線(xiàn)熒光分析儀EDX-GP是最適合用于RoHS/ELV/無(wú)鹵素法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線(xiàn)熒X射線(xiàn)熒光分析裝置EDX-GP光分析裝置。   第一次使用EDX-GP,也能輕松操作,操作簡(jiǎn)便且以更高的精度進(jìn)行微量分析,達(dá)到最高靈敏度與最佳分辨率的完美結(jié)合。EDX-GP標(biāo)準(zhǔn)配置RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析所需的所有必要功能,用戶(hù)無(wú)需購(gòu)買(mǎi)特殊選購(gòu)件,使可以獲得最佳RoHS/ELV/無(wú)

X射線(xiàn)熒光分析儀EDX-GP的詳細(xì)介紹


EDX-GP是最適合用于RoHS/ELV/無(wú)鹵素法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線(xiàn)熒光分析裝置。 

  第一次使用,也能輕松操作,操作簡(jiǎn)便且以更高的精度進(jìn)行微量分析,達(dá)到最高靈敏度與最佳分辨率的完美結(jié)合。

 

  標(biāo)準(zhǔn)配置RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析所需的所有必要功能,用戶(hù)無(wú)需購(gòu)買(mǎi)特殊選購(gòu)件,使可以獲得最佳RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析系統(tǒng).

測(cè)試步驟:


操作簡(jiǎn)便,一個(gè)指令即可開(kāi)始全自動(dòng)測(cè)定。 
測(cè)定條件的選擇過(guò)去一直依賴(lài)操作者的判斷,現(xiàn)在改由裝置自動(dòng)判斷,即使初學(xué)者也可簡(jiǎn)便·高精度地測(cè)定。
 
1st Step
放置樣品
●將樣品放在分析位置,利用樣品圖像觀察裝置確認(rèn)分析位置。
●選擇分析區(qū)域。
●關(guān)閉樣品室。

2nd Step
選擇分析條件/輸入樣品名稱(chēng)
●一個(gè)畫(huà)面中可以同時(shí)顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱(chēng)。
●點(diǎn)擊開(kāi)始。

3rd Step
顯示分析結(jié)果
●測(cè)定結(jié)束后,畫(huà)面上將清楚顯示5種元素的[合格判定]、[含量]、[3σ(測(cè)定偏差)]。
●點(diǎn)擊即可顯示[結(jié)果列表]或[創(chuàng)建報(bào)告書(shū)]。
只需1次點(diǎn)擊,便可根據(jù)預(yù)先登錄的分析條件, 
自動(dòng)執(zhí)行從測(cè)定到結(jié)果的一系列操作。
■ 校準(zhǔn)曲線(xiàn)自動(dòng)選擇功能
不含有害元素時(shí),測(cè)定過(guò)程中能夠判定結(jié)果時(shí),即自動(dòng)終止測(cè)定,縮短分析時(shí)間。
■ 省時(shí)功能
不含有害元素時(shí)
不含有害元素時(shí),測(cè)定過(guò)程中能夠判定結(jié)果時(shí),即自動(dòng)終止測(cè)定,縮短分析時(shí)間。
■ 適用省時(shí)功能的縮短時(shí)間示例
含量低于檢出下限值時(shí),判斷不含有,測(cè)定自動(dòng)結(jié)束。上述樣品中Pb、Cd的含量均低于檢出下限,與設(shè)定的200秒(=100秒+100秒)分析時(shí)間相比,僅用了50秒(=25秒+25秒)即結(jié)束分析,大幅度節(jié)約了時(shí)間。
有害元素含量高時(shí)
由設(shè)定的目標(biāo)管理精度自動(dòng)決定測(cè)定時(shí)間。 
在測(cè)定精度達(dá)到管理值時(shí)結(jié)束測(cè)定。
■ 適用省時(shí)功能的縮短時(shí)間示例


測(cè)定高濃度元素時(shí),在比設(shè)定的測(cè)定時(shí)間更短的時(shí)間內(nèi)即可獲得高強(qiáng)度,而且誤差變小,由此可以大幅縮短時(shí)間。上述樣品中Pb:7600ppm、Cd:52ppm,設(shè)定的分析時(shí)間為200秒(=100秒+100秒),實(shí)際僅用了40秒(=15秒+25秒)即結(jié)束分析,大幅度節(jié)約了時(shí)間。


EDX-GP標(biāo)準(zhǔn)配備了RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析所需的所有必要功能,用戶(hù)無(wú)需購(gòu)買(mǎi)特殊選購(gòu)件,就可以獲得最佳RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析系統(tǒng)。


標(biāo)準(zhǔn)配置改變照射直徑的準(zhǔn)直器&樣品圖像觀察組件


測(cè)定異物或者測(cè)定包含多個(gè)部位的樣品時(shí),通過(guò)樣品圖像觀察組件在觀察樣品的同時(shí),可以簡(jiǎn)單的設(shè)定分析位置。測(cè)定小樣品或樣品中特定位置時(shí),可以使用準(zhǔn)直器,更改X射線(xiàn)照射區(qū)域。
(1, 3, 5, 10 mmφ)


10mmφ?qǐng)D像(塑膠)
3mmφ(金屬)
 
形狀校正功能
即使含量相同的樣品,在形狀和厚度不同時(shí),X射線(xiàn)強(qiáng)度將發(fā)生變化,得到的定量值也會(huì)受到影響,EDX-GP通過(guò)使用BG內(nèi)標(biāo)法*,可以排除形狀和厚度的影響,取得高精度結(jié)果。 
※BG內(nèi)標(biāo)法 
通過(guò)散射X射線(xiàn)強(qiáng)度使各元素的X射線(xiàn)熒光強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)化的一種校正方法。
測(cè)定結(jié)果列表管理
創(chuàng)建列表功能
已保存數(shù)據(jù)可以用Excel形式列表顯示
超大樣品室可以對(duì)應(yīng)各種樣品形態(tài)及大小。
采用超大樣品室:最大可以放置370mm長(zhǎng)×320mm寬×155mm高的大型樣品,令緊湊型機(jī)身望塵莫及。

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