CTNV-4000系列，可搭配高達300KV的微焦點射線源，可以確保樣品穿透情況下同時達到高精度檢測能力，適合大尺寸、中高密度樣品的高分辨率檢測需求。
特點與優(yōu)勢
● 兼具高分辨和高穿透能力
● 更大承重的樣品臺
● 多種掃描模式：螺旋、偏置、有限角等
● 具備強大的擴展能力
技術指標
分辨率
像素細節(jié)分辨能力 | 500nm |
空間分辨率* | 2μm |
X射線源
類型 | 開管反射式 |
最高電壓 | 300KV / 240KV / 225KV / 190KV / 160KV |
平板探測器
成像面積 | 427mm×427mm |
像素矩陣 | 3072×3072 |
樣品
可檢測樣品尺寸 | 600mm×550mm(直徑×高度) |
樣品承重 | 25kg |
設備物理參數(shù)
設備尺寸 | 2770mm×1440mm×2040mm(長×寬×高) |
設備重量 | 7500kg |
*空間分辨率可用空間分辨率測試卡進行測試驗證
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