CTNV-3000系列，配備了透射式開管X射線源的系統(tǒng)，具備高分辨率，適用于追求高分辨率的檢測(cè)需求，尤其對(duì)于中低密度樣品可以獲得優(yōu)異的CT圖像
特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)
● 微納級(jí)的焦斑尺寸確保系統(tǒng)的高分辨率
● 透射式射線源，測(cè)試樣品與焦點(diǎn)的距離很小，達(dá)到高分辨成像
● 多種掃描模式：螺旋、偏置、有限角等
● 可搭載自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)，進(jìn)行批量自動(dòng)化測(cè)試
技術(shù)指標(biāo)
分辨率
像素細(xì)節(jié)分辨能力 | 200nm(平板探測(cè)器) / 40nm(物鏡耦合探測(cè)器) |
空間分辨率* | 500nm(平板探測(cè)器) / 500nm(物鏡耦合探測(cè)器) |
X射線源
類型 | 開管透射式(微焦點(diǎn)/納焦點(diǎn)) |
最高電壓 | 240KV / 225KV / 190KV / 160KV |
平板探測(cè)器
成像面積 | 244mm×195mm |
像素矩陣 | 1920×1536 |
物鏡耦合探測(cè)器
鏡頭 | 4X、10X、20X |
樣品
可檢測(cè)樣品尺寸 | 450mm×350mm(直徑×高度) |
樣品承重 | 15kg |
設(shè)備物理參數(shù)
設(shè)備尺寸 | 2460mm×1250mm×1950mm(長(zhǎng)×寬×高) |
設(shè)備重量 | 5000kg |
*空間分辨率可用空間分辨率測(cè)試卡進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證
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